仪器名称：台式X射线吸收精细结构谱仪

仪器型号：easyXAFS300⁺

生产厂家：Quantum Design

生产场地：美国

放置地点：大连化物所能源学院T2 B104

功能介绍：

X射线吸收精细结构谱是研究材料微观电子结构与配位结构的重要手段。XAFS谱包含X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 谱。前者可用于分析材料中元素的价态和价键特征，后者可实现在原子尺度上对特定元素周围临近配位壳层的结构特征进行精细表征，获得包括配位原子种类、配位距离、配位数、无序度等重要信息。

配置及参数：

具备XAFS和XES两种测试模式：XAFS提供材料元素的化学价态、原子配位环境等信息。XES提供材料元素氧化态、电子自旋态等信息；

采用Mo靶/Ag靶X射线管，最大功率可达1200W；

测试能量范围：5-20 keV；

分辨率：0.5-1.5eV(7~9KeV)；

高光通量：200,000 photons/sec；

应用领域：

台式X射线吸收精细结构谱仪easyXAFS300+采用独有的x射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现x射线吸收精细结构测量和分析。广泛应用在催化、电池、能源、地质、材料、陶瓷等研究领域，实现对元素价态和配位结构解析。